در این مقاله، ما به گزارش مطالعات میکروسکوپی طیف‌سنجی رامان از گرافن تک‌لایه و دولایه ته‌نشین شده بر روی بستر سیلیکا برای ساخت تجهیزات مبتنی بر گرافن می‌پردازیم. گرافن تک‌لایه و دولایه از ورقه‌ورقه‌شدن میکرومکانیکی گرافیت بالک، با کمک فرآیند بیان شده در مراجع به دست می‌آید. پیش از اعمال طیف‌سنجی رامان-میکرو، ما به تایید کیفیت گرافن و صحه‌گذاری تعداد لایه‌ها پرداختیم. برای توصیف تجهیزات و لایه‌های گرافن، الکترودهایی را با کمک روش نانوساخت استاندارد (با تفکیک ۱ تا ۵ میکرومتری منبع-تخلیه ) به تعدادی گرافن تک‌لایه و دولایه متصل کردیم. اندازه‌گیری‌های الکتریکی در دمای پایین در یک مبرد ۳He (هلیوم) پمپ جذبی صورت پذیرفت.

دریافت متن کامل مقاله