۲۸ اردیبهشت ۱۴۰۲
بررسی اثر تغییرات دما روی مطالعات میکروسکوپی رامان به عنوان ابزار نانومترولوژی برای لایههای گرافن
۲۰ آذر ۱۳۹۶
در این مقاله، ما به گزارش مطالعات میکروسکوپی طیفسنجی رامان از گرافن تکلایه و دولایه تهنشین شده بر روی بستر سیلیکا برای ساخت تجهیزات مبتنی بر گرافن میپردازیم. گرافن تکلایه و دولایه از ورقهورقهشدن میکرومکانیکی گرافیت بالک، با کمک فرآیند بیان شده در مراجع به دست میآید. پیش از اعمال طیفسنجی رامان-میکرو، ما به تایید کیفیت گرافن و صحهگذاری تعداد لایهها پرداختیم. برای توصیف تجهیزات و لایههای گرافن، الکترودهایی را با کمک روش نانوساخت استاندارد (با تفکیک ۱ تا ۵ میکرومتری منبع-تخلیه ) به تعدادی گرافن تکلایه و دولایه متصل کردیم. اندازهگیریهای الکتریکی در دمای پایین در یک مبرد ۳He (هلیوم) پمپ جذبی صورت پذیرفت.