در دو روز متوالی در کمیته ملی سازمان استاندارد، ۲ استاندارد جدید و یک استاندارد تجدیدنظر بررسی و مصوب شد. با تصویب این ۲ استاندارد جدید، تعداد استانداردهای ملی حوزه فناوری‌نانو به ۱۴۷ استاندارد رسید. جزئیات مربوط به این استانداردها به شرح زیر است:

صد و چهل و ششمین و صد و چهل و هفتمین استاندارد ملی فناوری نانو با عنوان های " فناوری نانو- نانوساخت - مشخصه های کلیدی کنترلی- قسمت ۶-۶ :گرافن- یکنواختی کرنش: طیفسنجی رامان " و " فناوری نانو- نانوساخت - مشخصه های کلیدی کنترلی- قسمت ۱۴-۶ : مواد پایه گرافنی- سطح نقص: طیف سنجی رامان " در روز ۲۹ شهریور ماه ۱۴۰۱ در اجلاسیه ۱۲۰ کمیته ملی سازمان استاندارد به دبیری خانم دکتر صادق حسنی مصوب شد.
هدف از تدوین این قسمت از مجموعه استانداردهای ملی ۱۹۷۵۸ ،ایجاد یک روش استانداردشده برای تعیین مشخصه کلیدی کنترلی ساختاری است. - یکنواختی کرنش برای گرافن تک لایه به وسیله طیف سنجی رامان پهنای پیک ۲D در طیف رامان، برای محاسبه پارامتر یکنواختی کرنش تحلیل می شود که معیار با ارزشی برای کمیت سنجی تأثیر تغییرات کرنش در مقیاس نانو بر خواص الکترونیکی لایه است ،. طبقه بندی به سازندگان کمک می کند کیفیت مواد خود را طبقه بندی کنند تا حد بالایی از عملکرد الکترونیکی گرافن مشخصه یابی شده را ارائه دهند و در نتیجه برای مناسب بودن بالقوه کیفیت مواد گرافن برای کاربردهای مختلف تصمیم بگیرند.

استاندارد تجدیدنظر نیز با عنوان "فناوری نانو- مشخصه یابی نانولوله های کربنی تک دیواره با استفاده از طیف سنجی فوتولومینسانس فروسرخ نزدیک" مورخ ۳۰ شهریور ۱۴۰۱ به دبیری خانم مهندس شاکری در اجلاسیه ۱۱۹ تصویب شد.
هدف از تدوین این استاندارد، ارائه رهنمودهایی برای مشخصه یابی نانولوله های کربنی تک دیواره (SWCNTs ) با استفاده از طیف سنجی فوتولومینسانس( (PL فروسرخ نزدیک (NIR) است.